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半导体外观镜检显微镜——GT-100P 系列

显微镜介绍:


GT-100P 系列显微镜采用华显光学自主研发的光路系统搭配高解析度物镜,倍率范围2.5x-100 X,

电子倍率100 X-6000 X,解析度可高达200纳米,配合高清工业相机,可实现拍图存贮,二维测量

等实用功能;可根据用户的需求选配EDF景深合成,网络传输,移动拼接等核心功能.


该系列广泛应用于工业检测领域满足对外观缺陷检测,工艺分析,储存回溯,尺寸测量等应用。




功能应用:


EDF景深合成:可对于不同景深焦面的产品,通过合成的方式获取整张清晰的图片;系统支持实时

合成,转动调节手轮拍摄不同景深点的同时,即可完成图像景深的实时拓展,全幅细节一目了然!






参数规格:


            




参数规格:



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