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P系列显微镜-拥有完美的光学系...
P系列显微镜-拥有完美的光学系统和新一代的光学技术并内置明场、暗场、偏光、微分干涉(DIC)等多种观察方式。偏光可用于显示材料的纹理和晶体样貌，其非常适合检测晶片和LCD结构；微分干涉差(DIC)用于帮助观察具有细微高度差异的样品，该技术非常适合用于检测诸如磁头、硬盘介质、以及抛光晶片等具有很小高度差的样品；暗场是检测标本上细微划痕或缺陷以及晶片等镜面样品的理想工具。
